Учебно-технологический комплекс
«Микроструктурный анализ высокого разрешения»
Комплекс позволит облегчить усвоение студентами теоретического материала по дисциплинам: «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов», «Физикохимия наночастиц и наноматериалов», «Физикохимия наноструктурированных материалов». Комплекс обеспечит приобретение практических навыков и компетенций в области изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов.
В состав УТК входят:
-
Аналитический автоэмиссионный растровый электронный микроскоп ULTRA 55/ULTRA 60 (Carl Zeiss,
Германия)
Разрешающая способность:
во вторичных электронах - 1 нм при 15 кВ;
в отраженных электронах - 1,3 нм при 20 кВ;
Максимальные габариты образца - диаметр до 200 мм, толщина до 100 мм;
Ускоряющее напряжение - от 100 В до 30 кВ;
Рабочие токи - до 20 нА.
-
Туннельный сканирующий микроскоп НТК «Умка»
Разрешение - атомно-молекулярное;
Размер образца -8x8 мм;
Поле сканирования -5x5 мкм;
Шаг сканирования в плоскости образца в полном поле/в режиме 1:10 - 0,08/0,008 нм;
Диапазон высот -1 мкм.
-
Атомный силовой сканирующий микроскоп «НаноСкан»
максимальный размер поля сканирования 7x7 мкм;
разрешение - по
XY не хуже 10 нм, по Z не хуже 1 нм;
возможно сканирование непроводящих поверхностей;
измерение твердости - от 7 до 100 ГПа;
измерение модуля упругости - от 50 до 1000 ГПа.
На базе перечисленного выше оборудования будут разработаны 4 лабораторные работы:
-
Изучение устройства и принципа действия аналитического автоэмиссионного растрового электронного микроскопа;
-
Исследование наноструктурированной поверхности методом туннельной микроскопии;
-
Исследование поверхности излома материалов на растровом электронном микроскопе;
-
Исследование роста наночастиц при твердофазном и жидкофазном спекании.
Дополнительно разрабатывается электронное описание 4 лабораторных работ.
